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探測系統
接觸與非接觸、觸發與掃描,利用各種類型的探測系統,可以完成形狀各異的工件表面點的數據采集工作。??慫箍倒┯ESA、Leitz、Renishaw品牌的測座、測頭、測針、測頭更換架等。

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  • TESA觸發測頭
    TESASTAR系列觸發測頭包括了各種結構與方式,如實現手動分度的測座與測頭一體化探測系統TESASTAR與TESASTAR-i,以及連接自動測座的TESASTAR-p和TESASTAR-mp。
  • Leitz掃描測頭
    提供最優的掃描性能 - 這是用戶可以從Leitz X系列掃描測頭所獲得的。從Leitz LSP-X1到Leitz LSP-X3和Leitz LSP-X5,提供了不同尺寸、不同性能的掃描探測系統,均可以實現離散掃描、自定心測量以及高速掃描任務,實現快速的精確形狀和輪廓的測量任務。
  • 非接觸測頭
    非接觸光學影像以及激光掃描探測系統,以更快速的手段、更便捷的方法實現復雜形狀和特征的測量
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