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Leitz Reference Xi

將Leitz高性能的掃描技術應用于新型Leitz Reference Xi,提供了豐富的測量選擇:從連接自動旋轉測座TESASTAR-m的LSP-X1掃描探測系統,到配備固定式掃描探測系統LSP-X3c 一直到LSP-X5,能夠在配備加長探針的情況下保持高精度。
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  • 2017-03-03Leitz Reference Xi 樣本
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